高溫計是非接觸式測量高溫的儀表，當被測量的溫度高於熱電偶所能使用的范圍，以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所，用光學高溫計一般可以滿足這個要求。它廣泛地用來測量冶練、澆鑄、軋鋼、政璃熔害、鍛打、熱處理等溫度，是冶金、化工和機械等工業生產過程中不能缺少的溫度測量儀表之一。

 

　　高溫計的組成：

　　按功能劃分本產品在形式上分為兩部分。一部分為光學機械系統、光電轉換及微電流放大器，另一部分為由微控制器等組成的測量顯示儀表。

 

　　光學系統布置及參數：

　　高溫計光學系統的設計，參考了復現ITS-90的基準光電溫度比較儀的光學系統及國外同類儀器的方案。高溫計光學系統布置：被測輻射源經物鏡成像于視場光闌，視場光闌中心為直徑0.2mm的圓孔，周圍為鏡反射面，用于瞄準。被測目標成像于圓孔上，其輻射經準直鏡、限制光闌、干涉濾光片、減弱濾光片、準直鏡后會聚到光電探測器上。限制光闌決定高溫計的孔徑比?？赊D動的干涉濾光片輪上有四個安裝位置，可安裝三片不同波長的干涉濾光片，使光束單色化，減弱濾光片用于擴展測溫上限，為瞄準系統的反射鏡，為瞄準物鏡，為減光片(輪)，為目鏡。

　　高溫計物鏡直徑為68mm，焦距140mm，小測量距離約0.4m，小測量靶面直徑小于0.8mm，顯微物鏡和目鏡放大倍數為2×15。高溫計采用干涉濾光片為單色器，其中心波長約為660nm，半寬帶約為10nm，長波截止至1200nm，830nm附近次峰透過率約為1×10-4；采用吸熱玻璃可將次峰透過率降低1-2個數量級。根據需要可選用900nm或950nm的紅外干涉濾光片。

 

　　雖然本產品在小目標和窄譜帶條件下測量難度增加，但在測量靶直徑為0.75mm條件下使用時，測量靶的形狀大小、有效波長及光譜帶寬等參數與國家基準的相應參數基本一致，避免了溫度基準至標準的傳遞過程中因這些參數不同引起的系統誤差。